Communication Dans Un Congrès
Année : 2009
Dominique Dallet : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00412251
Soumis le : mardi 1 septembre 2009-11:45:07
Dernière modification le : mardi 27 février 2024-10:26:04
Citer
Daniel Belega, Dominique Dallet. Accurate ADC dynamic testing by means of the three-parameter sine-fit algorithm. International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop - IMS3TW '09, Jun 2009, scottsdale, United States. pp.1-6, ⟨10.1109/IMS3TW.2009.5158682⟩. ⟨hal-00412251⟩
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