Méthodologie d'analyse physique pour l'évaluation de la fiabilité de Diodes Electroluminescentes InGaN/GaN - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Méthodologie d'analyse physique pour l'évaluation de la fiabilité de Diodes Electroluminescentes InGaN/GaN

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Electronique

Isabelle Bord  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00402734

Soumis le : mercredi 8 juillet 2009-10:36:14

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00402734 , version 1 (08-07-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00402734 , version 1

Citer

Raphaël Baillot, Yannick Deshayes, Yves Ousten, Laurent Bechou. Méthodologie d'analyse physique pour l'évaluation de la fiabilité de Diodes Electroluminescentes InGaN/GaN. JNRDM, May 2009, Lyon, France. p96. ⟨hal-00402734⟩

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