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Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Méthodologie d'analyse physique pour l'évaluation de la fiabilité de Diodes Electroluminescentes InGaN/GaN

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00402734 , version 1 (08-07-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00402734 , version 1

Citer

Raphaël Baillot, Yannick Deshayes, Yves Ousten, Laurent Bechou. Méthodologie d'analyse physique pour l'évaluation de la fiabilité de Diodes Electroluminescentes InGaN/GaN. JNRDM, May 2009, Lyon, France. p96. ⟨hal-00402734⟩
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