Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
Frédéric Darracq : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00401696
Soumis le : vendredi 3 juillet 2009-19:17:55
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00401696 , version 1
Citer
A. Machouat, G. Haller, V. Goubier, Dean Lewis, Philippe Perdu, et al.. Effect of Physical defect on schmoos in CMOS DSM technologies. European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), 2008, Maastricht, Netherlands. pp.25-32. ⟨hal-00401696⟩
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