Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
Frédéric Darracq : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00401385
Soumis le : vendredi 3 juillet 2009-07:56:05
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00401385 , version 1
Citer
Philippe Perdu, Dean Lewis, V. Pouget. Failure analysis of advanced CMOS technology: some trends, state of the art and future challenges. European Symposium on Reliability of Electron Devices (ESREF), 2008, Maastricht, Netherlands. ⟨hal-00401385⟩
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