Failure Analysis enhancement by evaluating the Photoelectric Laser Stimulation impact on mixed-mode ICs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2008
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Dates et versions

hal-00401312 , version 1 (02-07-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00401312 , version 1

Citer

Magdalena Sienkiewicz, Philippe Perdu, Abdellatif Firiti, Kevin Sanchez, Olivier Crepel, et al.. Failure Analysis enhancement by evaluating the Photoelectric Laser Stimulation impact on mixed-mode ICs. Microelectronics Reliability, 2008, 48, pp.1529-1532. ⟨hal-00401312⟩
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