Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2008
Frédéric Darracq : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00401312
Soumis le : jeudi 2 juillet 2009-18:53:42
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00401312 , version 1
Citer
Magdalena Sienkiewicz, Philippe Perdu, Abdellatif Firiti, Kevin Sanchez, Olivier Crepel, et al.. Failure Analysis enhancement by evaluating the Photoelectric Laser Stimulation impact on mixed-mode ICs. Microelectronics Reliability, 2008, 48, pp.1529-1532. ⟨hal-00401312⟩
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