Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2009
Genevieve Duchamp : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00400457
Soumis le : mardi 30 juin 2009-18:21:35
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00400457 , version 1
Citer
Jean-Baptiste Gros, Geneviève Duchamp, Alain Meresse †, Jean-Luc Levant. Electromagnetic immunity model of an ADC for microcontroller's reliability improvement. Microelectronics Reliability, 2009, 49. ⟨hal-00400457⟩
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