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Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2009

Electromagnetic immunity model of an ADC for microcontroller's reliability improvement

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00400457 , version 1 (30-06-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00400457 , version 1

Citer

Jean-Baptiste Gros, Geneviève Duchamp, Alain Meresse †, Jean-Luc Levant. Electromagnetic immunity model of an ADC for microcontroller's reliability improvement. Microelectronics Reliability, 2009, 49. ⟨hal-00400457⟩
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