Communication Dans Un Congrès
Année : 2009
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00400373
Soumis le : mardi 30 juin 2009-15:55:28
Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00400373 , version 1
Citer
J. Bazzi, C. Raya, A. Curutchet, T. Zimmer. Investigation of High Frequency coupling between Probe tips and Wafer surface.. IEEE BiCMOS Technology Meeting 2009, Oct 2009, Italy. pp.__. ⟨hal-00400373⟩
Collections
58
Consultations
0
Téléchargements