Failure mechanisms in deep sub-micron technologies - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Failure mechanisms in deep sub-micron technologies

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00398047 , version 1 (24-06-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00398047 , version 1

Citer

Vincent Pouget. Failure mechanisms in deep sub-micron technologies. Latin America Test Workshop, 2009, Buzios, Brazil. ⟨hal-00398047⟩
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