Communication Dans Un Congrès
Année : 2009
Frédéric Darracq : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00398047
Soumis le : mercredi 24 juin 2009-10:49:15
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00398047 , version 1
Citer
Vincent Pouget. Failure mechanisms in deep sub-micron technologies. Latin America Test Workshop, 2009, Buzios, Brazil. ⟨hal-00398047⟩
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