Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00397942 , version 1 (23-06-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00397942 , version 1

Citer

Alexandre Douin, Vincent Pouget, Frédéric Darracq, Dean Lewis, Pascal Fouillat, et al.. Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing. 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) 2005, Sep 2005, Cap d'Agde, France. pp.1-7. ⟨hal-00397942⟩
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