Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
Année : 2005
Frédéric Darracq : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00397918
Soumis le : mardi 23 juin 2009-16:14:20
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00397918 , version 1
Citer
Dean Lewis, Vincent Pouget, Félix Beaudoin, G. Haller, Phillipe Perdu, et al.. Implementing laser-based failure analysis methodologies using test vehicles. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, 2005, pp.279-288. ⟨hal-00397918⟩
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