Highlights of Laser Testing Capabilities Regarding the Understanding of SEE in SRAM-based FPGA
A. Bocquillon
(1)
,
G. Foucard
(2)
,
F. Miller
(1)
,
Nadine Buard
(1)
,
Régis Leveugle
(2)
,
C. Daniel
(1)
,
S. Rakers
,
T. Carriere
(1)
,
Vincent Pouget
(3)
,
Raoul Velazco
(2)
Régis Leveugle
- Function : Author
- PersonId : 749865
- IdHAL : regis-leveugle
S. Rakers
- Function : Author
Vincent Pouget
- Function : Author
- PersonId : 21573
- IdHAL : vincent-pouget
- ORCID : 0000-0001-6126-6708
- IdRef : 060649313
Raoul Velazco
- Function : Author
- PersonId : 737006
- IdHAL : raoul-velazco