Electrical Modeling for Laser Testing with Different Pulse Durations - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00397739 , version 1 (23-06-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00397739 , version 1

Citer

Alexandre Douin, Vincent Pouget, Dean Lewis, Pascal Fouillat, Phillipe Perdu. Electrical Modeling for Laser Testing with Different Pulse Durations. 11th IEEE International On Line Testing Symposium, Jul 2005, Saint Raphael, France. pp.9-13. ⟨hal-00397739⟩
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