Article Dans Une Revue
Journal of Applied Crystallography
Année : 2009
Marielle Clot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00394399
Soumis le : jeudi 11 juin 2009-15:19:05
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:41:44
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00394399 , version 1
Citer
C. Cayron, M. den Hertog, L. Latu-Romain, C. Mouchet, C. Secouard, et al.. Odd electron diffraction patterns in silicon nanowires and silicon thin films explained by microtwins and nanotwins. Journal of Applied Crystallography, 2009, 42, (2009), p1-11. ⟨hal-00394399⟩
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