Article Dans Une Revue
Microelectronic Engineering
Année : 2007
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00393151
Soumis le : mardi 9 juin 2009-14:57:56
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:40:35
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00393151 , version 1
Citer
Cédric Leroux, F. Allain, A. Toffoli, G. Ghibaudo, G. Reimbold. Automatic statistical full quantum analysis of C-V and I-V characteristics for advanced MOS gate stacks. Microelectronic Engineering, 2007, 84 (9-10), pp.2408-2411. ⟨hal-00393151⟩
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