Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
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https://hal.science/hal-00392166
Soumis le : vendredi 5 juin 2009-16:13:57
Dernière modification le : samedi 27 septembre 2025-18:52:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00392166 , version 1
Citer
M. Rafik, G. Ghibaudo. Contributions and Limits of Charge Pumping Measurement for Addressing Trap Generation in High-K/SiO2 Dielectric Stacks.. IEEE IRPS 2008, Phoenix, Arizona, USA, Apr 2008, Phoenix, United States. ⟨hal-00392166⟩
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