Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00392127
Soumis le : vendredi 5 juin 2009-15:28:51
Dernière modification le : samedi 27 septembre 2025-19:36:59
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00392127 , version 1
Citer
Mame Andallah Diop, N. Revil, M. Marin, F. Monsieur, P. Chevalier, et al.. Impact of Inside Spacer Process on Fully Self-Aligned 250 GHz SiGe:C HBTs Reliability Performances: a - Si vs. Nitride.. ESREF 2008, Maastricht, The Netherlands, Sep 2008, -, Netherlands. ⟨hal-00392127⟩
80
Consultations
0
Téléchargements