Evaluation of test measures for low-cost LNA production testing - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Evaluation of test measures for low-cost LNA production testing

Mots clés

test

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lucie Torella  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00386242

Soumis le : mercredi 20 mai 2009-17:30:18

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:26:05

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00386242 , version 1 (20-05-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00386242 , version 1

Citer

J. Tongbong, Ahcène Bounceur, Salvador Mir, J.L. Carbonero. Evaluation of test measures for low-cost LNA production testing. PhD Forum at 14th IFIP International Conference on Very Large Scale Integraation (VLSI-SoC’06), Oct 2006, Nice, France. pp.48-52. ⟨hal-00386242⟩

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