Towards thin film complete characterization using picosecond ultrasonics - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Towards thin film complete characterization using picosecond ultrasonics

P.A. Mante
  • Fonction : Auteur
Arnaud Devos
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
J.F. Robillard
CV

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https://hal.science/hal-00375168

Soumis le : mardi 14 avril 2009-09:25:14

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00375168 , version 1 (14-04-2009)

Identifiants

Citer

P.A. Mante, Arnaud Devos, J.F. Robillard. Towards thin film complete characterization using picosecond ultrasonics. IEEE International Ultrasonics Symposium, 2008 IEEE IUS, 2008, China. pp.1203-1206, ⟨10.1109/ULTSYM.2008.0290⟩. ⟨hal-00375168⟩

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