Erreurs de mesures liées à l'environnement des composants silicium RF « on-wafer » en bande millimétrique - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Erreurs de mesures liées à l'environnement des composants silicium RF « on-wafer » en bande millimétrique

C. Andrei
  • Fonction : Auteur
N. Waldhoff
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1389064
  • IdRef : 144518473
D. Gloria
  • Fonction : Auteur
Francois Danneville
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00370297 , version 1 (24-03-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00370297 , version 1

Citer

C. Andrei, N. Waldhoff, D. Gloria, Francois Danneville, Gilles Dambrine. Erreurs de mesures liées à l'environnement des composants silicium RF « on-wafer » en bande millimétrique. 15èmes Journées Nationales Microondes, JNM 2007, 2007, France. pp.1D6-1-4. ⟨hal-00370297⟩
113 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More