Elaboration de nanofils de silicium sur pointes de tungstène pour caractérisation en sonde atomique et microscopie champ proche - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Elaboration de nanofils de silicium sur pointes de tungstène pour caractérisation en sonde atomique et microscopie champ proche

T. Xu
  • Fonction : Auteur
J.P. Nys
  • Fonction : Auteur
D. Stiévenard
E. Cadel
R. Larde
P. Pareige
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00361980 , version 1 (17-02-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00361980 , version 1

Citer

T. Xu, B. Grandidier, J.P. Nys, D. Stiévenard, E. Cadel, et al.. Elaboration de nanofils de silicium sur pointes de tungstène pour caractérisation en sonde atomique et microscopie champ proche. 1ères Journées Nanosciences Nord-Ouest, J2NO 2008, 2008, Poitiers, France. ⟨hal-00361980⟩
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