Negative bias stress effect in pentacene thin-film transistors - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Negative bias stress effect in pentacene thin-film transistors

C. Petit
  • Fonction : Auteur
D. Zander
  • Fonction : Auteur
K. Lmimouni
M. Ternisien
CV
S. Lenfant
CV
D. Vuillaume
  • Fonction : Auteur
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

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https://hal.science/hal-00361616

Soumis le : lundi 16 février 2009-11:36:00

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00361616 , version 1 (16-02-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00361616 , version 1

Citer

C. Petit, D. Zander, K. Lmimouni, M. Ternisien, S. Lenfant, et al.. Negative bias stress effect in pentacene thin-film transistors. 4th International Meeting on Molecular Electronics, ElecMol'08, 2008, Grenoble, France. ⟨hal-00361616⟩

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