High frequency characterization of compact N+Poly/Nwell varactor using waffle-layout - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

High frequency characterization of compact N+Poly/Nwell varactor using waffle-layout

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00361118 , version 1 (13-02-2009)

Identifiants

Citer

Y. Morandini, J.F. Larchanche, Christophe Gaquière. High frequency characterization of compact N+Poly/Nwell varactor using waffle-layout. 8th Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems, SiRF 2008, 2008, United States. pp.167-170, ⟨10.1109/SMIC.2008.48⟩. ⟨hal-00361118⟩
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