Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
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https://hal.science/hal-00361118
Soumis le : vendredi 13 février 2009-10:10:14
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
Y. Morandini, J.F. Larchanche, Christophe Gaquière. High frequency characterization of compact N+Poly/Nwell varactor using waffle-layout. 8th Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems, SiRF 2008, 2008, United States. pp.167-170, ⟨10.1109/SMIC.2008.48⟩. ⟨hal-00361118⟩
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