Characterization of thin films using scanning thermal microscopy - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Characterization of thin films using scanning thermal microscopy

L. David
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1369632
  • IdRef : 115011919
Centre de Thermique de Lyon
S. Gomes
  • Fonction : Auteur
Centre de Thermique de Lyon
P. Galland
  • Fonction : Auteur
B. Vassort
  • Fonction : Auteur
M. Raynaud
  • Fonction : Auteur
Centre de Thermique de Lyon

Domaines

Thermique [physics.class-ph] Thermique [physics.class-ph]

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https://hal.science/hal-00360885

Soumis le : jeudi 12 février 2009-15:22:09

Dernière modification le : mercredi 29 mai 2024-09:48:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00360885 , version 1 (12-02-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00360885 , version 1

Citer

L. David, S. Gomes, P. Galland, B. Vassort, M. Raynaud. Characterization of thin films using scanning thermal microscopy. 17ème Congrès Européen sur les Propriétés Thermophysiques (ECTP), Sep 2005, Bratislava, Slovakia. ⟨hal-00360885⟩

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