Scanning near-field millimeter-wave microscope : application to a vector-coding technique - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Année : 2008

Scanning near-field millimeter-wave microscope : application to a vector-coding technique

O. Benzaim
  • Fonction : Auteur
Kamel Haddadi
CV
M.M. Wang
  • Fonction : Auteur
M. Maazi
  • Fonction : Auteur
D. Glay
T. Lasri
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 751883
  • IdHAL : tuami-lasri
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

Collection IEMN  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00356989

Soumis le : jeudi 29 janvier 2009-10:42:39

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00356989 , version 1 (29-01-2009)

Identifiants

Citer

O. Benzaim, Kamel Haddadi, M.M. Wang, M. Maazi, D. Glay, et al.. Scanning near-field millimeter-wave microscope : application to a vector-coding technique. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2008, 57, pp.2392-2397. ⟨10.1109/TIM.2008.926365⟩. ⟨hal-00356989⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-VALENCIENNES IEMN UNIV-LILLE
41 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

More