Complete thin film mechanical characterization using picosecond ultrasonics and nanostructured transducers : experimental demonstration on SiO2 - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2008

Complete thin film mechanical characterization using picosecond ultrasonics and nanostructured transducers : experimental demonstration on SiO2

P.A. Mante
  • Fonction : Auteur
J.F. Robillard
CV
Arnaud Devos
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

Collection IEMN  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00356648

Soumis le : mercredi 28 janvier 2009-10:34:14

Dernière modification le : vendredi 26 avril 2024-03:30:06

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00356648 , version 1 (28-01-2009)

Identifiants

Citer

P.A. Mante, J.F. Robillard, Arnaud Devos. Complete thin film mechanical characterization using picosecond ultrasonics and nanostructured transducers : experimental demonstration on SiO2. Applied Physics Letters, 2008, 93, pp.071909-1-3. ⟨10.1063/1.2975171⟩. ⟨hal-00356648⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-VALENCIENNES IEMN UNIV-LILLE
19 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

More