Thermal characterization of nanostructured materials by Scanning Thermal Microscopy - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Thermal characterization of nanostructured materials by Scanning Thermal Microscopy

S. Gomes
  • Fonction : Auteur
Centre de Thermique de Lyon
Patrice Chantrenne
Centre de Thermique de Lyon
S. Lefevre
Centre de Thermique de Lyon
CV

Domaines

Thermique [physics.class-ph]

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https://hal.science/hal-00351468

Soumis le : vendredi 9 janvier 2009-12:44:53

Dernière modification le : mercredi 29 mai 2024-09:48:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00351468 , version 1 (09-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00351468 , version 1

Citer

S. Gomes, Patrice Chantrenne, S. Lefevre. Thermal characterization of nanostructured materials by Scanning Thermal Microscopy. The second international workshop on : Quantitative Micro and Nano Thermal Imaging and Analysis QMNTIA 2007, Jun 2007, Lyon, France. ⟨hal-00351468⟩

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