Thermal Transient Characterization of Electronic Assemblies by Infrared Camera in Fast Line Scan Mode - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1995
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00350072 , version 1 (05-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00350072 , version 1

Citer

Philippe Dondon, J. Lauriou, Christian Zardini. Thermal Transient Characterization of Electronic Assemblies by Infrared Camera in Fast Line Scan Mode. THERMINIC, Sep 1995, Grenoble, France. pp.33. ⟨hal-00350072⟩
89 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More