Caractérisation en puissance des condensateurs céramiques multicouches par thermographie infrarouge - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1994

Caractérisation en puissance des condensateurs céramiques multicouches par thermographie infrarouge

Résumé

Un équipement de test a été spécialement conçu au laboratoire IXL pour la caractérisation des condensateurs céramiques dans les applications de puissance. Il est composé d'un système complet de thermographie infrarouge- architecturé autour d'une caméra inframétrics 760- associée à un onduleur à transistor MOS capable de fournir au condensateur sous test un courant de 20A crête à 1 MHz. Nous exposons ci-après le fonctionnement du système puis nous donnons quelques résultats de mesure.Ceux-ci sont discutés et comparés avec ceux obtenus par caractérisations électriques. Nous concluons enfin sur l'intérêt d'un tel équipement pour une application inductrielle

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00350054 , version 1 (05-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00350054 , version 1

Citer

Philippe Dondon, Didier Darouzes, Christian Zardini. Caractérisation en puissance des condensateurs céramiques multicouches par thermographie infrarouge. EPF'94, Sep 1994, CACHAN, France. pp.137-142. ⟨hal-00350054⟩
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