Article Dans Une Revue
Image Analysis & Stereology
Année : 2008
Yannick Champion : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00345642
Soumis le : mardi 9 décembre 2008-15:15:46
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:13
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00345642 , version 1
Citer
E. Girard, J.M. Chaix, F. Valdivieso, P. Goeuriot, J. Léchelle. Local study of defects during sintering of UO2: image processing and quantitative analysis tools. Image Analysis & Stereology, 2008, 27, pp.79-85. ⟨hal-00345642⟩
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