Comparison between changes of ultracapacitors model parameters during calendar life and power cycling ageing tests - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2008

Comparison between changes of ultracapacitors model parameters during calendar life and power cycling ageing tests

Domaines

Energie électrique

Olivier Briat  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00333031

Soumis le : mercredi 22 octobre 2008-11:57:47

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00333031 , version 1 (22-10-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00333031 , version 1

Citer

Hassane El Brouji, Olivier Briat, Jean-Michel Vinassa, Nicolas Bertrand, Eric Woirgard. Comparison between changes of ultracapacitors model parameters during calendar life and power cycling ageing tests. Microelectronics Reliability, 2008, 48 (9), pp. 1473-1478. ⟨hal-00333031⟩

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