Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2007
François Marc : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00326542
Soumis le : vendredi 3 octobre 2008-14:05:05
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00326542 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2007.07.079
Citer
Corinne Bestory, François Marc, Hervé Lévi. Statistical analysis during the reliability simulation. Microelectronics Reliability, 2007, 47, pp.1353-1357. ⟨10.1016/j.microrel.2007.07.079⟩. ⟨hal-00326542⟩
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