Dispositif de mesure d'une épaisseur seuil de couche de matériau purement résistif, procédé de mesure, procédé de dimensionnement et utilisation d'un tel dispositif dans un pot d'échappement - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Brevet Année : 2011

Dispositif de mesure d'une épaisseur seuil de couche de matériau purement résistif, procédé de mesure, procédé de dimensionnement et utilisation d'un tel dispositif dans un pot d'échappement

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00322364 , version 1 (17-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00322364 , version 1

Citer

Francis Ménil, Claude Lucat. Dispositif de mesure d'une épaisseur seuil de couche de matériau purement résistif, procédé de mesure, procédé de dimensionnement et utilisation d'un tel dispositif dans un pot d'échappement. France, N° de brevet: EP2376864 (A1). 2011. ⟨hal-00322364⟩
29 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More