Nanoscale measurement of stress and strain by quantitative high-resolution electron microscopy - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Mater. Sci. Forum Année : 2005

Nanoscale measurement of stress and strain by quantitative high-resolution electron microscopy

Martin Hÿtch
CV
J.L. Putaux
Centre de Recherches sur les Macromolécules Végétales
CV
J.M. Penisson
  • Fonction : Auteur

Michèle Carret  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00305967

Soumis le : vendredi 25 juillet 2008-10:26:56

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:36:00

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00305967 , version 1 (25-07-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00305967 , version 1

Citer

Martin Hÿtch, J.L. Putaux, J.M. Penisson. Nanoscale measurement of stress and strain by quantitative high-resolution electron microscopy. Mater. Sci. Forum, 2005, pp.39-44. ⟨hal-00305967⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UGA CNRS CERMAV
40 Consultations
1 Téléchargements

Partager

More