Measuring mechanical properties of polyelectrolyte multilayer thin films: Novel methods based on AFM and optical techniques - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects Année : 2007

Measuring mechanical properties of polyelectrolyte multilayer thin films: Novel methods based on AFM and optical techniques

C. Picart
  • Fonction : Auteur
B. Senger
  • Fonction : Auteur
K. Sengupta
A. Fery
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00305528 , version 1 (24-07-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00305528 , version 1

Citer

C. Picart, B. Senger, K. Sengupta, F. Dubreuil, A. Fery. Measuring mechanical properties of polyelectrolyte multilayer thin films: Novel methods based on AFM and optical techniques. Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects, 2007, pp.30-36. ⟨hal-00305528⟩
49 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More