X Ray diffraction microstructure analysis of ultra precision machined material. - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2002

X Ray diffraction microstructure analysis of ultra precision machined material.

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https://hal.science/hal-00299110

Soumis le : jeudi 17 juillet 2008-09:46:47

Dernière modification le : mardi 27 août 2024-12:40:34

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00299110 , version 1 (17-07-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00299110 , version 1

Citer

R.Y. Fillit, P. Revel, H. Khanfir. X Ray diffraction microstructure analysis of ultra precision machined material.. 2nd EUSPEN international conference, 2002, Turin, Italy. pp.730-733. ⟨hal-00299110⟩

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