Characterization of trapping/de-trapping phenomena by pulse gate voltage techniques in pentacene field effect transistor - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Characterization of trapping/de-trapping phenomena by pulse gate voltage techniques in pentacene field effect transistor

C. Petit
  • Fonction : Auteur
D. Zander
  • Fonction : Auteur
K. Lmimouni
D. Tondelier
  • Fonction : Auteur
S. Lenfant
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00284521 , version 1 (03-06-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00284521 , version 1

Citer

C. Petit, D. Zander, K. Lmimouni, D. Tondelier, S. Lenfant, et al.. Characterization of trapping/de-trapping phenomena by pulse gate voltage techniques in pentacene field effect transistor. 9th European Conference on Molecular Electronics, ECME 2007, 2007, Metz, France. ⟨hal-00284521⟩
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