Communication Dans Un Congrès
Année : 2007
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https://hal.science/hal-00284521
Soumis le : mardi 3 juin 2008-11:34:51
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00284521 , version 1
Citer
C. Petit, D. Zander, K. Lmimouni, D. Tondelier, S. Lenfant, et al.. Characterization of trapping/de-trapping phenomena by pulse gate voltage techniques in pentacene field effect transistor. 9th European Conference on Molecular Electronics, ECME 2007, 2007, Metz, France. ⟨hal-00284521⟩
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