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Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Coupling on-wafer measurement errors and their impact on calibration and de-embedding up to 110 GHz for CMOS millimeter wave characterizations

C. Andrei
  • Fonction : Auteur
D. Gloria
  • Fonction : Auteur
P. Scheer
  • Fonction : Auteur
Gilles Dambrine
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00284025 , version 1 (02-06-2008)

Identifiants

Citer

C. Andrei, D. Gloria, Francois Danneville, P. Scheer, Gilles Dambrine. Coupling on-wafer measurement errors and their impact on calibration and de-embedding up to 110 GHz for CMOS millimeter wave characterizations. IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS'07, 2007, Japan. pp.253-256, ⟨10.1109/ICMTS.2007.374494⟩. ⟨hal-00284025⟩
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