Communication Dans Un Congrès
Année : 2007
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https://hal.science/hal-00284025
Soumis le : lundi 2 juin 2008-10:08:44
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
C. Andrei, D. Gloria, Francois Danneville, P. Scheer, Gilles Dambrine. Coupling on-wafer measurement errors and their impact on calibration and de-embedding up to 110 GHz for CMOS millimeter wave characterizations. IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS'07, 2007, Japan. pp.253-256, ⟨10.1109/ICMTS.2007.374494⟩. ⟨hal-00284025⟩
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