Reversible defect engineering of single-walled carbon nanotubes using scanning tunneling microscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Nano Letters Année : 2007

Reversible defect engineering of single-walled carbon nanotubes using scanning tunneling microscopy

Maxime Berthe
S. Yoshida
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Y. Ebine
  • Fonction : Auteur
K. Kanazawa
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A. Okada
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A. Taninaka
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O. Takeuchi
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N. Fukui
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H. Shinohara
  • Fonction : Auteur
S. Suzuki
  • Fonction : Auteur
K. Sumimoto
  • Fonction : Auteur
Y. Kobayashi
D. Stievenard
H. Shigekawa
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00283164 , version 1 (29-05-2008)

Identifiants

Citer

Maxime Berthe, S. Yoshida, Y. Ebine, K. Kanazawa, A. Okada, et al.. Reversible defect engineering of single-walled carbon nanotubes using scanning tunneling microscopy. Nano Letters, 2007, 7, pp.3623-3627. ⟨10.1021/nl071845c⟩. ⟨hal-00283164⟩
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