Reversible defect engineering of single-walled carbon nanotubes using scanning tunneling microscopy - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Nano Letters Année : 2007

Reversible defect engineering of single-walled carbon nanotubes using scanning tunneling microscopy

Maxime Berthe
S. Yoshida
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Y. Ebine
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K. Kanazawa
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A. Okada
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A. Taninaka
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O. Takeuchi
  • Fonction : Auteur
N. Fukui
  • Fonction : Auteur
H. Shinohara
  • Fonction : Auteur
S. Suzuki
  • Fonction : Auteur
K. Sumimoto
  • Fonction : Auteur
Y. Kobayashi
B. Grandidier
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
CV
D. Stievenard
H. Shigekawa
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00283164

Soumis le : jeudi 29 mai 2008-11:02:56

Dernière modification le : jeudi 13 juin 2024-03:23:13

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Dates et versions

hal-00283164 , version 1 (29-05-2008)

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Citer

Maxime Berthe, S. Yoshida, Y. Ebine, K. Kanazawa, A. Okada, et al.. Reversible defect engineering of single-walled carbon nanotubes using scanning tunneling microscopy. Nano Letters, 2007, 7, pp.3623-3627. ⟨10.1021/nl071845c⟩. ⟨hal-00283164⟩

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