Effect of thermal strain on structure and polarization fatigue of CSD-derived PbZr0.53Ti0.47O3/LaNiO3 hetero-structures - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Applied physics. A, Materials science & processing Année : 2007

Effect of thermal strain on structure and polarization fatigue of CSD-derived PbZr0.53Ti0.47O3/LaNiO3 hetero-structures

G.S. Wang
  • Fonction : Auteur
Denis Remiens
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
El Hadj Dogheche
X.L. Dong
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00283063

Soumis le : jeudi 29 mai 2008-09:17:41

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

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Dates et versions

hal-00283063 , version 1 (29-05-2008)

Identifiants

Citer

G.S. Wang, Denis Remiens, El Hadj Dogheche, X.L. Dong. Effect of thermal strain on structure and polarization fatigue of CSD-derived PbZr0.53Ti0.47O3/LaNiO3 hetero-structures. Applied physics. A, Materials science & processing, 2007, 88, pp.657-660. ⟨10.1007/s00339-007-4022-9⟩. ⟨hal-00283063⟩

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