Article Dans Une Revue
Applied Surface Science
Année : 2007
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https://hal.science/hal-00283057
Soumis le : jeudi 29 mai 2008-09:17:32
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
C. Legrand, A. da Costa, R. Desfeux, Caroline Soyer, Denis Remiens. Piezoelectric evaluation of ion beam etched Pb(Zr,Ti)O3 thin films by piezoresponse force microscopy. Applied Surface Science, 2007, 253, pp.4942-4946. ⟨10.1016/j.apsusc.2006.10.076⟩. ⟨hal-00283057⟩
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