Piezoelectric evaluation of ion beam etched Pb(Zr,Ti)O3 thin films by piezoresponse force microscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Surface Science Année : 2007

Piezoelectric evaluation of ion beam etched Pb(Zr,Ti)O3 thin films by piezoresponse force microscopy

C. Legrand
  • Fonction : Auteur
A. da Costa
  • Fonction : Auteur
R. Desfeux
Caroline Soyer

Dates et versions

hal-00283057 , version 1 (29-05-2008)

Identifiants

Citer

C. Legrand, A. da Costa, R. Desfeux, Caroline Soyer, Denis Remiens. Piezoelectric evaluation of ion beam etched Pb(Zr,Ti)O3 thin films by piezoresponse force microscopy. Applied Surface Science, 2007, 253, pp.4942-4946. ⟨10.1016/j.apsusc.2006.10.076⟩. ⟨hal-00283057⟩
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