Challenges and potential of new approaches for reliability assessment of nanotechnologies - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Comptes Rendus de l'Academie des Sciences. Série IV, Physique, Astronomie Année : 2008

Challenges and potential of new approaches for reliability assessment of nanotechnologies

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Optique / photonique

Yannick Deshayes  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00266387

Soumis le : vendredi 21 mars 2008-18:17:49

Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00

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Dates et versions

hal-00266387 , version 1 (21-03-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00266387 , version 1

Citer

L. Bechou, Y. Danto, J.Y. Deletage, F. Verdier, Y. Deshayes, et al.. Challenges and potential of new approaches for reliability assessment of nanotechnologies. Comptes Rendus de l'Academie des Sciences. Série IV, Physique, Astronomie, 2008, pp.95-109. ⟨hal-00266387⟩

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