On wafer pattern measurements of integrated antennas on standard BiCMOS and glass processes for 40-80 GHz applications - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

On wafer pattern measurements of integrated antennas on standard BiCMOS and glass processes for 40-80 GHz applications

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Electronique

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https://hal.science/hal-00261745

Soumis le : dimanche 9 mars 2008-12:34:34

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:58:43

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00261745 , version 1 (09-03-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00261745 , version 1

Citer

N. Segura, S. Montusclat, D. Gloria, Christian Person, S. Tedjini. On wafer pattern measurements of integrated antennas on standard BiCMOS and glass processes for 40-80 GHz applications. International Conference on Microelectronic Test Structures, May 2005, Leuven, Belgium. pp.00-001. ⟨hal-00261745⟩

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