Génération de vecteurs de test pour les systèmes analogiques mixtes et RF - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Génération de vecteurs de test pour les systèmes analogiques mixtes et RF

Résumé

L'augmentation de la complexité des circuits intégrés mixtes et RF rend difficile leur test. Les défauts pouvant apparaître lors de la production de ces circuits sont plus difficilement observables et contrôlables. Plusieurs méthodes de génération de vecteurs de test ont déjà été développées mais présentent des temps de simulation rédhibitoires pour le test de systèmes AMS&RF complexes. Dans notre approche, nous proposons une méthode de génération de vecteurs de test basée sur l'injection et la simulation de fautes modélisées au niveau comportemental.
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)
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Dates et versions

hal-00250410 , version 1 (12-02-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00250410 , version 1

Citer

Yves Joannon, Vincent Beroulle, Chantal Robach, Smail Tedjini, Jean-Louis Carbonero. Génération de vecteurs de test pour les systèmes analogiques mixtes et RF. Ecole d'hiver Francophone sur les Technologies de Conception des systèmes embarqués Hétérogènes (FETCH 2007), Jan 2007, Villard-de-Lans, France. pp.1. ⟨hal-00250410⟩

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