Systematic structural characterization of the high-temperature behavior of nearly stoichiometric silicon oxycarbide glasses - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Chemistry of Materials Année : 2004

Systematic structural characterization of the high-temperature behavior of nearly stoichiometric silicon oxycarbide glasses

H. Brequel
  • Fonction : Auteur
J. Parmentier
  • Fonction : Auteur
S. Walter
  • Fonction : Auteur
R. Badheka
  • Fonction : Auteur
G. Trimmel
  • Fonction : Auteur
Sylvie Masse
CV
J. Latournerie
  • Fonction : Auteur
P. Dempsey
  • Fonction : Auteur
C. Turquat
CV
A. Desmartin-Chomel
  • Fonction : Auteur
L. Neindre-Prum
  • Fonction : Auteur
U. Jayasooriya
  • Fonction : Auteur
D. Bahloul-Hourlier
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
J. Kleebe
  • Fonction : Auteur
G. Soraru
  • Fonction : Auteur
S. Enzo
  • Fonction : Auteur
F. Babonneau
CV

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https://hal.science/hal-00248020

Soumis le : vendredi 8 février 2008-10:24:55

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

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Dates et versions

hal-00248020 , version 1 (08-02-2008)

Identifiants

Citer

H. Brequel, J. Parmentier, S. Walter, R. Badheka, G. Trimmel, et al.. Systematic structural characterization of the high-temperature behavior of nearly stoichiometric silicon oxycarbide glasses. Chemistry of Materials, 2004, 16, pp.2585-2598. ⟨10.1021/cm049847a⟩. ⟨hal-00248020⟩

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