Communication Dans Un Congrès
Année : 2006
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https://hal.science/hal-00247418
Soumis le : vendredi 8 février 2008-07:53:05
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
E. Pichonat, J. Kuzmik, S. Bychikhin, D. Pogany, M.A. Poisson, et al.. Temperature analysis of AlGaN/GaN high-electron-mobility transistors using micro-Raman scattering spectroscopy and transient interferometric mapping. 1st European Microwave Integrated Circuits Conference, EuMIC 2006, 2006, United Kingdom. pp.54-57, ⟨10.1109/EMICC.2006.282748⟩. ⟨hal-00247418⟩
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