Optimizing pulsed OBIC technique for ESD defect localization - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00204574 , version 1 (15-01-2008)

Identifiants

Citer

Fabien Essely, Nicolas Guitard, Frédéric Darracq, Vincent Pouget, Marise Bafleur, et al.. Optimizing pulsed OBIC technique for ESD defect localization. 13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2006, Singapour, Singapore. pp.270-275, 10.1109/IPFA.2006.251044, ⟨10.1109/IPFA.2006.251044⟩. ⟨hal-00204574⟩
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